Pattern Recognition
- Type: Exam (PR)
- Chair: KIT-Fakultäten - KIT-Fakultät für Informatik - Institut für Anthropomatik und Robotik - IAR Beyerer
- Semester: WS 22/23
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Time:
Fr 2023-03-17
08:00 - 10:00, once
Übersicht gebuchte Klausuren
Virtuell
Fr 2023-03-17
08:00 - 10:00, once
20.40 Fritz-Haller Hörsaal (HS37)
20.40 Architekturgebäude (EG)
- Lecturer: Prof. Dr.-Ing. Jürgen Beyerer
- SWS: 2
- Lv-No.: 7500111
Voraussetzungen | Empfehlungen: Kenntnisse der Grundlagen der Stochastik, Signal- und Bildverarbeitung sind hilfreich. |
Beschreibung | Merkmale:
Klassifikatoren:
Lernen:
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Literaturhinweise | Weiterführende Literatur - Richard O. Duda, Peter E. Hart, Stork G. David. Pattern Classification. Wiley-Interscience, second edition, 2001 |
Lehrinhalt | Merkmale:
Klassifikatoren:
Allgemeine Prinzipien:
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Arbeitsbelastung | Gesamt: ca. 90h, davon 1. Präsenzzeit in Vorlesungen: 20h 2. Vor-/Nachbereitung derselbigen: 20h 3. Prüfungsvorbereitung und Präsenz in selbiger: 50h |
Ziel |
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Prüfung | Die Erfolgskontrolle wird in der Modulbeschreibung erläutert. |